background-image

Met X-ray vision kun je alles zien

Er zijn voor- en nadelen aan Atomic Force Microscopy. Wat zijn de voordelen van Atomic Force Microscopy? Een belangrijk voordeel van Atomic Force Microscopy is dat het beeld tijdens het scannen onder verschillende hoeken kan worden genomen, waardoor de onderzoeker een uitstekende afstandsmeting van het beeld tot het voorwerp kan verkrijgen, en een nauwkeurige diktemeting over het beeldoppervlak met een X-ray micro ct. Atomic Force Microscopy is gebruikt om de dikte van dunne lagen te meten en om de mechanische eigenschappen van materialen te bestuderen.

Nauwkeurige microscoop

Bij Atomic Force Microscopy wordt vaak gebruik gemaakt van een krachtige, uiterst nauwkeurige microscoop om microscopische beelden te maken. Dit is een geweldige manier om het zeer kleine af te beelden. Voor meer informatie: Aangezien de X-ray micro ct echter krachtig is en een hoge vergroting heeft, kan het niet praktisch zijn om de beeldvorming van zeer kleine monsters of objecten uit te voeren. Daarom is het mogelijk dit soort beeldvorming uit te voeren met een nog kleinere microscoop, met een kleiner objectief en dus een veel kleinere microscoop. Een van de bekendste voordelen van atoomkrachtmicroscopie is dat er geen ijking voor nodig is, terwijl een van de nadelen de kosten zijn.

Verschillende toepassingen

De dikte van een dunne laag heeft een diepgaand effect op een verscheidenheid van mechanische en optische eigenschappen van een materiaal. Voor meer informatie: Bijvoorbeeld, dunne films van een polymeer film die mechanisch of optisch verbonden zijn met elektroden kunnen worden gebruikt voor een X-ray micro ct of optische schakelaars terwijl de dikte van een dunne laag van een keramische film kritisch is voor elektro optische toepassingen. Wanneer de dikte van een materiaal dun genoeg is, kunnen de mechanische en elektrische eigenschappen van het materiaal op een gecontroleerde wijze worden afgesteld.

Zo kan bijvoorbeeld de dikte van een antireflectiecoating, een optische film, of een dunne laag van een polymeerfilm worden gewijzigd. Voor meer informatie: Het gebruik van Atomic Force Microscopy voor het afbeelden van een nano-dunne laag van materialen zoals een polymeerfilm of een keramische film is voor het onderzoek van zeer groot belang.

Met X-ray vision kun je alles zien

© 2021 deBesteGids.nl - Gebruikte foto's: Pexels.com